CIC nanoGUNE desarrolla un sistema de control de calidad para dispositivos de grafeno

El trabajo se ha llevado a cabo en colaboración con científicos del ICFO-Instituto de Ciencias Fotónicas de Cataluña

Investigadores del CIC nanoGUNE han desarrollado una innovadora herramienta no invasiva para realizar el control de calidad de dispositivos de grafeno. El desarrollo, llevado a cabo en colaboración con el Instituto de Ciencias Fotónicas de Cataluña (ICFO), consiste en una técnica para la caracterización eficiente de las propiedades optoelectrónicas de los dispositivos de grafeno en la nanoescala.
En el equipo investigador ha participado el científico Pablo Alonso González y el investigador Ikerbasque Rainer Hillenbrand, entre otros expertos.
La introducción de dispositivos de grafeno electrónicos y optoelectrónicos está avanzando, sin embargo para lograr el funcionamiento óptimo de este tipo de soluciones es necesario minimizar las imperfecciones que todavía existen en la nanoescala y en la escala atómica.
Las técnicas empleadas hasta ahora para la inspección de los sistemas de grafeno son invasivas, requieren de estructuras diseñadas específicamente para esa función y carecen de resolución nanométrica.
En este sentido, la herramienta desarrollada por los científicos de CIC nanoGUNE combina diferentes técnicas avanzadas y abre la puerta a nuevas posibilidades no invasivas de inspección que se puedan integrar en tecnologías electrónicas y optoeléctricas.

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